Categorii

Dilatometru Laser

Linseis a dezvoltat un nou model de dilatometru, construit dupa principiul interferometrului Michelson. Se pot obtine rezolutii de ordinul PICOMETRILOR (0,3nm = 300 Picometer). Aceasta inseamna ca se pot obtine rezolutii de pana la 33,33 ori mai bune decat cele care erau posibile pana in prezent. In plus, folosirea principiului interferenta Michelson, dau posibilitatea obtinerii unei acuratete mult mai mari – mai ales ca sunt folosite si niste calibrari...

Model: L75 / Laser

Preţ, fără TVA: La cerere

Distribuie

Telefon: 0744.594.794 / 0251.417.664

E-mail: tehnic@aparatura-laboratoare.ro

  Linseis a dezvoltat un nou model de dilatometru, construit dupa principiul interferometrului Michelson. Se pot obtine rezolutii de ordinul PICOMETRILOR (0,3nm = 300 Picometer). Aceasta inseamna ca se pot obtine rezolutii de pana la 33,33 ori mai bune decat cele care erau posibile pana in prezent. In plus, folosirea principiului interferenta Michelson, dau posibilitatea obtinerii unei acuratete mult mai mari – mai ales ca sunt folosite si niste calibrari speciale pe computer. Pana in prezent, o acuratete absoluta de 1% era considerata normala, cu cea mai buna acuratete de 100nm. Noua metoda va permite obtinerea unei acurateti de pana la 30nm. Situatia se imbunatateste considerabil in cazul efectuarii masuratorilor cu un dilatometru cu tija dubla, deoarece proba este masurata in comparatie cu un material de referinta cunoscut. Deoarece aceasta se efectueaza simultan, erorile mentionate mai sus pot fi eliminate printr-o scaderea simpla: rezultatelor masuratorii probei minus rezultatele masuratorii referintei. Aceasta va duce la o crestere si mai mare a acuratetii, unde chiar si cele mai mici dilatari, mai mici chiar decat dilatarea quartz-ului, de ordinul 10E-8, pot fi masurate.  Caracteristici importante
  • Dilatometru laser bazat pe principiul Michelson
  • Masurare non-contact dilatare si contractie measurement
  • Nu este necesara calibrarea
  • Poate masura orice material solid (reflector sau non-reflector)
  • Geometria probei – la alegere
  • Prepararea probei – la fel ca in cazul dilatometrelor clasice
  • Se pot efectua masuratori in atmosfera inerta, oxidanta, reducatoare sau vid
  • Precizie maxima: 0.3 nm
  • Gama temperaturi -180 .... 1600°C*
  • Osibilitatea de a alege intre un cuptor cu inductie sau cu element de incalzire
  Gama: 20mm Rezolutie: +/- 1nm, (+/-0.3nm tipic) Acuratete: +/- 50nm Reproductibilitate +/- 10nm Lungime de unda 632.8nm Temperatura ambientala 10..30°C Suport proba Fused silica Push rod Fused silica, evacuated Incalzirea Inductiva Gama frecvente generator 150..400kHz Gama temperaturi RT...1000°C Termocuplu Tip-K (NiCr/Ni), sudata de proba Rata de incalzire / racire 0.1..99.9K/s 0.1..99.9K/min Timp mentinere 0...3000s 0...3000min Rata achizitie max. 1000 citiri/s Cerinte alimentare 230VAC, 16A, 50..60Hz Puterea consumata de generator 3.5kVA Apa de racire 2l/min, 5 Bar Gaze (ptr. proba / racire) Gaz inert, max. 10l/min la max. 1Bar
  - Masuratori de precizie a dilatarii termice pentru materiale cu dilatari reduse: carbon, grafit, materiale compozite, sticla cu dilatare redusa, aliaje din ambra (chihlimbar), aliaje cuartz etc. - Masuratori de precizie pentru dilatarea termica a materialelor folosite in productia semiconductorilor.   - Controlul si inspectia calitatii materialelor cu pentru care caracteristicile de dilatare termica pot fi o problema, cum ar fi sticla, materialele izolatoare, bimetalele, materialele folosite in fabricarea instrumentelor de precizie etc.
CAPTCHA ImageRefresh Image

Imaginile prezentate au caracter informativ şi uneori pot conţine unele inadvertenţe.